Filmes amorfos de óxido de vanádio foram depositados sobre substratos de vidro recobertos com ITO, pela técnica de deposição de filmes de óxidos metálicos por filamento aquecido. Os espectros de difração de raios-X mostraram que os filmes como-depositados tratados termicamente em atmosfera de argônio em 200 e 300 ºC continuaram amorfos e os tratados a 400 e 500 ºC tornaram-se policristalinos, com a estrutura do V2O5. Os eletrodos foram eletroquimicamente reversíveis sob intercalação de Li+, exibindo o efeito eletrocrômico, observado por medidas da transmitância ótica em 632,8 nm. O coeficiente de difusão do Li, DC, foi medido pela técnica de titulação galvanostática intermitente (GITT) em função da carga inserida. Para os filmes cristalinos, a absorbância ótica e o DC aumentam com a quantidade de Li inserido, nas regiões de fase única de Li xV2O5 cristalino e decrescem nas regiões de duas fases. Para essas, um DC efetivo foi considerado. Nos filmes cristalinos foi inferida a presença de outros óxidos de vanádio misturados à matriz de V2O5, através das medidas de cronopotenciometria e de DC.

Amorphous vanadium oxide films were synthesized onto ITO-coated glass substrates by the hot filament metal oxide deposition technique. The as-deposited samples were heat-treated in an argon atmosphere. X-ray diffraction analysis revealed that the films treated at 200 and 300 ºC were still amorphous, while those treated at 400 and 500 ºC were crystalline, with a V2O5 structure. All electrodes were electrochemically reversible for Li+ intercalation, exhibiting the electrochromic effect, observed from optical transmittance measurements at 632.8 nm. The Li-diffusion coefficient, DC, was measured by the galvanostatic intermittent titration technique (GITT) as function of the inserted charge. For the crystalline films it was observed that the optical absorbance and the DC increase with increasing Li insertion in the single-phase regions of crystalline Li xV2O5 and decrease in the two-phase regions. For the latter, an effective DC was considered. The presence of other vanadium oxides mixed to the V2O5 matrix was inferred for the crystalline films from the chronopotentiometric and DC measurements.