Linhagens de Aspergillus nidulans que apresentam duplicação cromossômica Dp(I-II) foram caracterizadas por eletroforese em campo pulsado. Foram analisados variantes morfologicamente deteriorados e melhorados. O cariótipo eletroforético demonstrou que em ambas as linhagens duplicadas (A e B) a banda de 4,2 Mb, que corresponde ao cromossomo II, não estava presente e foi encontrada uma nova banda. Foram feitas hibridizações usando os genes uapA (cromossomo I) e wA (cromossomo II), que demonstraram que a nova banda corresponde ao cromossomo II mais o segmento duplicado do cromossomo I. O tamanho da duplicação foi determinado como aproximadamente 1,0 Mb. A análise das bandas cromossômicas da linhagem morfologicamente melhorada mostrou que o segmento duplicado do cromossomo I foi completamente perdido. Os variantes morfologicamente deteriorados V9 e V17 mostraram o mesmo cariótipo eletroforético apresentado pelas linhagens duplicadas. Contudo, o variante deteriorado V5 perdeu parte do cromossomo I e apresentou um rearranjo envolvendo o cromossomo V. Esse rearranjo pode ter resultado do tratamento mutagênico usado para a obtenção dos marcadores genéticos. Os resultados obtidos nesse trabalho demonstram que a técnica de eletroforese em campo pulsado é uma ferramenta excelente para a localização de rearranjos cromossômicos.
