Tradicionalmente, o acesso à confiabilidade de dispositivos tem sido baseado em testes de vida (acelerados). Entretanto, para produtos altamente confiáveis, pouca informação a respeito de sua confiabilidade é fornecida por testes de vida no quais poucas ou nenhumas falhas são observadas. Uma vez que boa parte das falhas é induzida por mecanismos de degradação, uma alternativa é monitorar o dispositivo por um período de tempo e acessar sua confiabilidade através das mudanças em desempenho (degradação) observadas durante aquele período. O objetivo deste artigo é ilustrar como dados de degradação podem ser modelados e analisados utilizando-se abordagens "clássicas" e Bayesiana. Quatro métodos de análise de dados baseados em inferência clássica são apresentados. A seguir, mostramos como os métodos Bayesianos podem também ser aplicados para proporcionar uma abordagem natural à análise de dados de degradação. As abordagens são aplicadas a um banco de dados real relacionado à degradação de rodas de trens.
abordagem Bayesiana; abordagem clássica; análise de dados de degradação; confiabilidade
