RESUMEN
Las películas de (1-x) BiFeO3- (x) CoFe2O4 variando la concentración (x = 0, 0.1, 0.2 y 0.3), fueron depositadas por spin coating sobre sustratos de Pt (Pt/TiO2/SiO2/Si) a partir de soluciones precursoras con una concentración de 0.05 molar, la cual fue obtenida por sol-gel. En la caracterización de las películas delgadas se estudió la estructura y las propiedades magnetoeléctricas mediante difracción de rayos X, corriente de fuga, constante dieléctrica, curva de histéresis ferroeléctrica y ferromagnética. En el difractograma de rayos X se muestran picos característicos con la formación de BiFeO3 y el crecimiento de los picos pertenecientes al CoFe2O4 con el aumento de x. Todas las muestras revelan poca corriente de fuga, siendo la menor de 10-10 A /cm2 para (0.8) BiFeO3- (0.2) CoFe2O4. La constante dieléctrica se incrementó en el rango de 102Hz a 105Hzluego disminuyó debido a la relajación dieléctrica, para todas las muestras la pérdida dieléctrica es menor al 4%. Todas las películas muestran polarización y magnetización remanentes mayores a 60 μC/cm2 y 30 emu/gr respectivamente.
Palabras clave
magnetoeléctricas; películas; ferromagnética y ferroeléctrica