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Polímeros

versão impressa ISSN 0104-1428versão On-line ISSN 1678-5169

Resumo

NOGUEIRA, Luciano M. et al. Evaluation of MIC/FT-IR/DSC techniques for multilayer films characterization. Polímeros [online]. 2007, vol.17, n.2, pp.158-165. ISSN 1678-5169.  https://doi.org/10.1590/S0104-14282007000200015.

The transmission, reflection, photoacoustic (PAS) and microscopy FT-IR techniques have been used for characterizing multilayer films. The ATR, microscopy FT-IR and PAS techniques showed better results, probably because it was possible to analyze only the sample surface by ATR, while with MIC/FT-IR each layer of the sample could be studied separately and in PAS the spectra could be obtained at different rates. A complete characterization for the films was achieved by combining with optical microscopy, DSC and FT-IR data.

Palavras-chave : Optical microscopy; DSC; FT-IR; ATR; DRIFT; PAS; multilayer films.

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