Resumo

GOMES, Cristiano Mauro Assis. Validade do conjunto de testes da habilidade de memória de curto-prazo (CTMC). Estud. psicol. (Natal) [online]. 2011, vol.16, n.3, pp. 235-242. ISSN 1413-294X.  http://dx.doi.org/10.1590/S1413-294X2011000300005.

Este artigo analisa em nível exploratório a validade do CTMC, em termos de sua estrutura fatorial, validade convergente, validade discriminante e validade preditiva. Serão analisadas as respostas de 230 participantes que cursavam o ensino médio. Para investigar a estrutura fatorial foi usada a análise fatorial exploratória. Para investigar a validade convergente, divergente e preditiva foi usado o modelamento por equação estrutural. Os resultados apontam que os escores dos testes possuem adequada confiabilidade e validade. A estrutura fatorial dos itens dos testes indica a presença de três fatores especializados da memória de curto-prazo (Gsm). Os testes convergem para mensurar Gsm e divergem na mensuração de Gf. Gsm, medida pelo CTMC, prediz Gf.

Palavras-chave : memória de curto prazo; validade; inteligência.