Estudamos os efeitos de interface de filmes finos de eletrodos de V2O5 sobre vidros com óxido de índio-estanho (ITO) para intercalação de Li utilizando combinações de métodos: perfil de profundidade por espectrometria de massas de íons secundários (SIMS), inserção-extração eletroquímica de íons lítio por voltametria cíclica de varredura lenta (SSCV) e por técnica de titulação potenciostática intermitente (PITT). Nós demonstramos que a distribuição de Li+ no interior do filme de óxido é sempre distante de ser considerada homogênea e que diferentes etapas de difusão (paralelas às interfaces e bem como perpendiculares a elas) são consideradas por conter áreas de alguns cm² em experimentos com eletrodos. A margem exposta pelo corte da placa de vidro revestida com ITO e recoberta com V2O5 desempenha um papel importante no processo, pelo fato de expor a interface V2O5-ITO ao eletrólito.
