Neste trabalho, micrografias eletrônicas de varredura de esferas de copolímero baseadas em metacrilato de metila (MMA), etilenoglicoldimetacrilato (EGDM) e vinil-trietoxissilano (VTES) foram usadas para construir modelos de regressão multivariada de imagem. Microscopia eletrônica de varredura (SEM) e ensaios de intumescimento indicaram que aumentando a concentração de silicone (VTES) dos copolímetros ocorre um aumento da quantidade de poros e porcentagem de porosidade. Micrografias eletrônicas de varredura dos copolímeros sintetizados com diferentes concentrações de VTES foram usadas para construir dois modelos de calibração, que puderam relacionar a concentração de VTES e a porcentagem de porosidade dos copolímeros com suas imagens de SEM. Para construção dos modelos foram utilizados o método dos mínimos quadrados parciais multi-modo (N-PLS) e componentes principais desdobrados (u-PCR). O poder de previsão dos modelos construídos foi avaliado utilizando um conjunto teste. Os resultados indicaram que os modelos conseguiram prever de forma muito efetiva a concentração de VTES e a porcentagem de porosidade dos copolímeros a partir de suas imagens de SEM.
