Caracterização microestrutural por EBSD da liga Ti-6Al-4V recoberta com filme de SiC/Cr depositado por processo HiPIMS antes e após ensaios de fluência

Microstructural characterization by EBSD of Ti-6Al-4V alloy with a SiC/Cr layer deposited by HiPIMS process before and after the creep tests

RESUMO

A aplicação de um filme de SiC/Cr em liga Ti-6Al-4V para indústria aeroespacial visa a proteção química a ação do oxigênio na liga de titânio, e aumento do tempo de vida em fluência e do tempo de fratura e a diminuição da taxa de fluência da liga a deformação plástica em relação a liga sem proteção. O objetivo deste trabalho foi investigar e avaliar a evolução microestrutural, textura e as correlações cristalinas da liga Ti-6Al-4V recoberta com filme de SiC/Cr via High Power Impulse Magnetron Sputtering (HiPIMS) antes e após os ensaios de fluência. Os ensaios de fluência foram executados em temperaturas de 500, 600 e 650 °C, na modalidade de carga constante, e nas tensões de 125, 250 e 319 MPa. As análises das amostras foram realizadas por meio de microscopia eletrônica de varredura (MEV) utilizando a técnica de difração de elétrons retroespalhados (EBSD) e espectroscopia de raios X por dispersão em energia (EDS). Os resultados na liga Ti-6Al-4V a partir de EBSD identificaram que houve mudanças microestruturais e da textura para um conjunto de direções preferencias à medida em que aumentou a tensão do ensaio de fluência, aumentou a texturização das fases Ti-α e Ti-β.

Palavras-chave
EBSD; Ti-6Al-4V; Fluência; Recobrimento de SiC