SciELO - Scientific Electronic Library Online

 
vol.53 número326Análise da co-utilização do resíduo do beneficiamento do caulim e serragem de granito para produção de blocos e telhas cerâmicosCaracterização estrutural da cerâmica Ti x(Sm0,2Ce0,8)1-xO 2-delta pelo método de Rietveld índice de autoresíndice de assuntospesquisa de artigos
Home Pagelista alfabética de periódicos  

Serviços Personalizados

Journal

Artigo

Indicadores

Links relacionados

Compartilhar


Cerâmica

versão impressa ISSN 0366-6913versão On-line ISSN 1678-4553

Resumo

GHENO, S. M.; HASEGAWA, H. L.  e  PAULIN FILHO, P. I.. Direct probing of semiconductor barium titanate via electrostatic force microscopy. Cerâmica [online]. 2007, vol.53, n.326, pp.200-204. ISSN 0366-6913.  http://dx.doi.org/10.1590/S0366-69132007000200015.

Electrostatic force microscopy (EFM) was used to directly probe surface potential in doped barium titanate semiconducting ceramics. EFM measurements were performed using noncontact scans at a constant tip-sample separation of 75 nm with varied bias voltages applied to the sample. The applied voltage was mapped up to 10 V and the distribution of potential across the sample showed changes in regions that matched the grain boundaries, displaying a constant barrier width of 145.2 nm.

Palavras-chave : electrostatic force microscopy; electric potential; barriers; barium titanate.

        · resumo em Português     · texto em Inglês     · Inglês ( pdf )

 

Creative Commons License Todo o conteúdo deste periódico, exceto onde está identificado, está licenciado sob uma Licença Creative Commons