SciELO - Scientific Electronic Library Online

 
vol.53 número326Sondagem direta de titanato de bário semicondutorpor meio de microscopia de força eletrostáticaCaracterização térmica e morfológica de fibras contínuas de basalto índice de autoresíndice de assuntospesquisa de artigos
Home Pagelista alfabética de periódicos  

Serviços Personalizados

Journal

Artigo

Indicadores

Links relacionados

Compartilhar


Cerâmica

versão impressa ISSN 0366-6913versão On-line ISSN 1678-4553

Resumo

DOMINGUES, S. et al. Caracterização estrutural da cerâmica Tix(Sm0,2Ce0,8)1-xO 2-d pelo método de Rietveld. Cerâmica [online]. 2007, vol.53, n.326, pp.205-211. ISSN 0366-6913.  http://dx.doi.org/10.1590/S0366-69132007000200016.

O método precursor polimérico foi aplicado para a síntese de pós de Tix(Sm0,2Ce0,8)1 xO2-d, com 0 < x < 0,5, com tratamento nas temperaturas de 400 ºC, 700 ºC e 1000 ºC. A caracterização foi feita por difração de raios X e o refinamento estrutural pelo método de Rietveld. A inserção do titânio tende a aumentar a deformação da rede da estrutura cristalina, que não é eliminada até a temperatura de 700 ºC. Nestas condições as amostras ainda se mostraram monofásicas como cerianita. Para as amostras tratadas a 1000 ºC, a deformação provocada pela introdução do titânio é suprimida e a solubilidade do titânio na cerianita se limita a valores de x < 0,05. O excedente precipita-se como única fase secundária de titanato de samário para valores de 0,5 < x < 0,20. Quando x excede este valor, observa-se também a precipitação da fase rutila. Paralelamente, há uma diminuição da fase titanato de samário e a re-incorporação do samário pela cerianita, sendo que esta é comprovada pelo aumento dos parâmetros de rede da cerianita.

Palavras-chave : difração de raios X; método de Rietveld.

        · resumo em Inglês     · texto em Português     · Português ( pdf )

 

Creative Commons License Todo o conteúdo deste periódico, exceto onde está identificado, está licenciado sob uma Licença Creative Commons